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 产品展示-无损检测仪器
MC-2000DE新型涂层测厚仪名    称:MC-2000DE新型涂层测厚仪
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发布日期:2019-7-16 11:41:03
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 本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属(如钢、铁、镍、合金和硬磁性钢等)基体上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等),及非磁性金属基体(如铜、铝、不锈钢、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)

磁性法
(F型测头)      当测头与覆盖层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。

涡流法
(N型测头)  利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。

F10探头测量范围是10毫米。更多涂层测厚仪的技术资料www.th-chaosheng.com


 

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